Correction éditeur : charges partielles mesurées par diffraction électronique – Nature

Rappel essentiel : quelle correction a été publiée ?

La revue a publié une correction liée à un article précédent. Dans la section Méthodes intitulée « Data processing and model refinement », la première phrase indiquant que les données « Data were processed with XDS » omettait une référence importante. Cette erreur a été rectifiée en ajoutant la citation manquante (Kabsch, W. XDS. Acta Crystallogr., Sect. D: Biol. Crystallogr. 66, 125–132 (2010)).

Pourquoi cette correction compte-t-elle ?

Cette mise à jour peut sembler mineure, mais elle est fondamentale pour la transparence méthodologique et la reproductibilité. Citer correctement les outils de traitement des données :

• permet d’identifier précisément les versions et les algorithmes utilisés ;
• facilite la reproduction des résultats par d’autres équipes ;
• reconnaît le travail des auteurs des logiciels, ici XDS.

Qu’est-ce que XDS et quel rôle joue-t-il ?

XDS est un logiciel largement utilisé en cristallographie pour le traitement des images de diffraction : indexation, intégration et correction des intensités. Exemples précis :

• Indexation : XDS calcule la maille cristalline à partir des positions des pics de diffraction.
• Intégration : il estime les intensités des réflexions à partir des images brutes.
• Correction : il applique des modèles d’atténuation et d’échelle pour obtenir des jeux de données cohérents.

Impacts pratiques pour les chercheurs

Pour une équipe qui souhaite reprendre l’étude ou comparer des jeux de données, la référence à XDS est utile : elle indique les procédés standards employés et les paramètres potentiels. Par exemple :

• Si un groupe obtient des intensités différentes, il saura vérifier la configuration XDS (paramètres d’intégration, masque de pixels, traitement des reflets faibles).
• Pour les méta-analyses, connaître l’outil permet d’homogénéiser les pipelines de traitement.

Informations d’auteurs et droits : que retenir ?

Les auteurs proviennent de plusieurs institutions européennes et américaines, ce qui témoigne d’une collaboration interdisciplinaire et internationale. L’article est publié en Open Access sous licence Creative Commons Attribution 4.0, autorisant le partage et l’adaptation sous réserve d’une attribution correcte et du lien vers la licence.

Référence et signalement de la correction

La correction a été intégrée aux versions HTML et PDF de l’article et s’appuie sur la référence ajoutée : Kabsch, W., XDS (Acta Crystallogr., Sect. D: Biol. Crystallogr. 66, 125–132 (2010)). L’article corrigé est cité comme suit : Mahmoudi, S., Gruene, T., Schröder, C. et al., Publisher Correction: Experimental determination of partial charges with electron diffraction. Nature (2025).